[Proton-excited characteristic x-ray emission--a new method for trace analysis].
D000388:Air / Q000032:analysis; D008722:Methods; D011522:Protons; D012666:Semiconductors; D013057:Spectrum Analysis; D014131:Trace Elements / Q000032:analysis*; D014867:Water / Q000032:analysis
D011522:Protons; D014131:Trace Elements; D014867:Water
Protonexciterad karakteristisk röntgenstrålning--ny metod för spårämnesanalys.