[Modeling the transport properties of Si,C-resistors for electronic implants based on microscopic material analysis].
Krätschmer
H
H
Zentralinstitut für Biomedizinische Technik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.
Eck
S
S
Bolz
A
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Schaldach
M
M
D017554:Carbon Compounds, Inorganic; D004553:Electric Conductivity; D006801:Humans; D008855:Microscopy, Electron, Scanning; D019736:Prostheses and Implants; D017655:Silicon Compounds; D013499:Surface Properties
D017554:Carbon Compounds, Inorganic; D017655:Silicon Compounds; C022088:silicon carbide
Modellierung der Transporteigenschaften von Si,C-Widerständen für elektronische Implantate auf der Basis einer mikroskopischen Materialanalyse.